TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的絕對粒徑測量精度和測量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品，歷經(jīng)30年深受研究者信任。

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特點優(yōu)勢

高分辨率數(shù)據(jù)：高達167通道

1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍

符合ISO 15900:2009標(biāo)準(zhǔn)

快速測量：<10s掃描<>

寬濃度范圍，高達 10 7 顆粒/cm 3

給您最大靈活度的組件設(shè)計

觸摸屏控制無需電腦操作

免工具安裝易于設(shè)置，自動發(fā)現(xiàn)組件

審慎的顆粒測量：適合多模樣品

不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)

寬系統(tǒng)配置選項：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無輻射中和器

應(yīng)用范圍

納米技術(shù)研究和材料合成

大氣研究和環(huán)境檢測

燃燒和發(fā)動機排放研究

室內(nèi)空氣質(zhì)量測量

成核/凝結(jié)研究

吸入毒理學(xué)研究

包含組件

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器

七款凝聚粒子計數(shù)器之一

Aerosol Instrument Manager?氣溶膠儀器管理軟件